SMU 源表2634B

完整的生產(chǎn)測試，無需犧牲空間

滿足您的所有生產(chǎn)測試需求，在同一空間內(nèi)有兩條完全隔離的寬動態(tài)源和測量通道。 每條 40 W 通道提供 6? 位**分辨率源，在小于 100 μs 脈沖寬度和設(shè)定值的 0.1% 范圍內(nèi)，測量 10 A 到 0.1 fA 和 200 V 到 100 nV。

使用 2600B 簡化 FET 測試

特點

• 在同一空間內(nèi)可有 2 條通道
• 超寬的電壓和電流動態(tài)范圍
• 高度準(zhǔn)確的 100 μs 脈沖可擴展直流生產(chǎn)測試能力

 SMU 源表2634B

嵌入式腳本提供****的生產(chǎn)吞吐量

滿足您的所有生產(chǎn)測試需求，在同一空間內(nèi)有兩條完全隔離的寬動態(tài)源和測量通道。 每條 40 W 通道提供 6? 位**分辨率源，在小于 100 μs 脈沖寬度和設(shè)定值的 0.1% 范圍內(nèi)，測量 10 A 到 0.1 fA 和 200 V 到 100 nV。

使用 2600B 系列進(jìn)行二極管生產(chǎn)測試

特點

• 消除與 PC 之間耗時的總線通信
• **數(shù)據(jù)處理和流量控制
• 通用型探頭/處理程序控制

 SMU 源表2634B

系統(tǒng)性能，無主機

TSP-Link® 技術(shù)支持?jǐn)U展多達(dá) 64 條通道，支持高速、SMU-per-pin 并行測試（而不使用主機）。 <500 ns 時所有通道同時獨立受控。

使用 Keithley 2600B 系列儀器增加多引腳設(shè)備的生產(chǎn)吞吐量

特點

• 支持 <500 ns 通道間同步
• 可達(dá) 32 條或 64 條獨立 SMU 通道
• 隨著測試要求變化輕松重新配置

 SMU 源表2634B

適合生產(chǎn)的優(yōu)良低電流性能

2635B 和 2636B SMU 在*低 100 pA 范圍內(nèi)提供 0.1 fA、10-16 分辨率，減少超低電平樣本檢定煩惱，確保生產(chǎn)成功。

特點

• 在*低電流范圍內(nèi)穩(wěn)定時間快 7 倍
• 具有市面上的優(yōu)良低電流分辨率
• 直接三芯同軸連接簡化了設(shè)置

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