觸控薄膜瑕疵檢測系統主要特色： 適用于ITO (Indium Tin Oxide)薄膜等連續式(Roll to Roll)制程線上即時自動光學檢測 配備高解析度線型掃描相機，可檢出氣泡及刮傷等臟污及瑕疵 使用多支相機同時進行取像，檢測速度快 配備位置控制和反饋系統，可得到**及清晰的掃描圖像 系統具備定位標靶識別功能、地圖對應功能*

Chroma*新一代7505-02觸控薄膜瑕疵檢測系統適用于ITO (Indium Tin Oxide)薄膜等連續式(Roll to Roll)制程線上即時自動光學檢測。主要運用CCD 對電容式觸控面板表面進行影像拍攝，為以PC-based架構的線掃描(Line-scan)影像檢測系統，應用視覺顯像檢測核心技術，高感光度線性掃描(Line-scan)攝影機，低像差變形鏡頭(Lens)，高亮度燈源(Lighting)，高速影像擷取卡(Frame Grabber)等。透過即時的同步觸發取像并搭配高速的瑕疵檢出判斷技術，以及精準的記憶體管控技術，達到高速不中斷的連續檢測, 進行2D 表面瑕疵分析。