• 半自動 LED wafer/chip 點測設備
• 漏電流測試模組
• 電源量測單元
• 光學測試模組
• ESD 測試模組 (選配)

Chroma 58173 是一組全新獨特的量測 LED 全光 通量之自動化測試系統。在LED的裸晶與晶粒測 試生產線中，常見使用部份光通量來取代全光通 量之量測方式 (見圖1)。然而，傳統的方式存在 一些缺點，例如：準確度較低、訊噪比較低、測 試時間較長等，以致于導入LED 的裸晶與晶粒生 產線時會發生問題。

致茂研發出一種全新、高速且高**度之 LED 全光通量之量測方式(見圖2)。 這種**的量測 方式不僅比傳統方式收集更多的 LED 部分光通 量，也明顯的改善提升了量測**度。

在光學量測方面，主波長、峰波長、色溫等均可 透過致茂獨特的光學設計與元件取得**且穩定 快速之數據；在機構方面，58173 搭載一個6吋 的晶片載盤與校正基座，提供使用者一個完整 的校正與測試平臺；在電性測試方面，58173 則 具備完整之電源量測單元，無論順向電壓、漏電 流、逆向崩潰電壓等 LED 電性特性，均可于一 次滿足使用者的測試需求。